VEW entwickelt und fertigt optische Messgeräte, mit denen Oberflächendaten der Messobjekte gesammelt und analysiert werden können. Außerdem bietet VEW Messdienstleistungen, sowie die hochauflösende Kalibrierung optisch abbildender Systeme durch eine eigens hierfür entwickelte Sichtstrahlkalibrierung an.
Die VEW 3D-Kamera ermöglicht die dreidimensionale Vermessung (3D) von beliebigen Freiformflächen.
Die VEW Stereo-Kamera ermöglicht die dreidimensionale Vermessung (3D) von beliebigen Freiformflächen.
Das digitale, holografische Meßsystem ist in der Lage fertigungsbegleitend, im Produktionstakt von 1s, die Funktionsoberfläche von Mikrobauteilen flächenhaft und hochpräzise auf Diskontinuitäten mit <5µm zu vermessen.
Das System basiert auf einem…
Die VEW-Messsysteme können individuell nach Kundenwunsch in eine Produktionslinie integriert werden.
Die Messsoftware ,,Fringe Processor'' verfügt über Schnittstellen, die es erlauben, den Messvorgang durch ein übergeordnetes System steuern zu lassen und die Daten wahlweise als…
Defelektometrie Messverfahren im Einsatz für Oberflächenmesssysteme
Eine Einführung in die Anwendungsmöglichkeiten
Die Deflektometriemesstechnik basiert auf der Reflexion regelmässiger geometrischer Bildmuster auf der zu messenden Objektoberfläche.
Die Topographie der…
Die Deflektometriemesstechnik basiert auf der Reflexion regelmässiger geometrischer Bildmuster auf der zu messenden Objektoberfläche.
Die Topographie der Objektoberfläche führt dabei zu einer Verzerrung der reflektierten Bildmuster. Diese Verzerrungen werden mit einer Kamera…
Das Scherografie-Verfahren ermöglicht die zerstörungsfreie optische Inspektion von Verbundmaterialien (Glare; CFK; GFK) und die Detektion von verborgenen, in der Struktur liegenden Fehlern mittels dynamischer oder thermischer Anregung der Strukturoberfläche.
Verborgene Fehler…
VEW-GmbH führt die Kalibrierung von Optiken mit Hilfe der Sichtstrahlkalibrierung als Dienstleistung durch und bietet alternativ einen Kalibrierstand zur vollautomatischen Kalibrierung optischer Systeme an.